Popis produktu

LEXT OLS 5000

  • Precízne merania, rýchla a jednoduchá obsluha
  • Vysokokvalitné zobrazovanie v 4k rozlíšení, 2CH PMT detektory a nový MEMS rezonančný skener
  • Konfokálny režim (Laser DIC, Color a Color DIC) v kombinácii s klasickým zobrazením BF, DF, POL, DIC, HDR
  • Prvotriedna metrológia so širokou škálou meracích modulov
  • Rýchle nekontaktné, nedeštruktívne zobrazovanie a meranie bez nutnosti prípravy vzorky
  • Špičkové rozlíšenie v osi XY 1nm a v osi Z 0.5nm
  • Meranie hrán a zkosení ≤ 87.5°, Meranie: dĺžky, hrúbky, plochy, objemu, profilu, veľkosti zrna, podielu fáz, porozity a iné
  • Meranie líniovej a plošnej drsnosti v súlade s normami ISO4287, ISO25178
  • Hodnotenie mikročistoty a štruktúry materiálov podľa normy ASTM a DIN
  • Garantovaná vysoká presnosť merania ±1.5% a opakovateľnosť merania ≤0.012µm
  • Použiteľný na transparentné vrstvy
  • Modulárny systém, Plocha skenovania až 300x300mm, Výška vzorky až 210mm
  • Mikroskop s kalibračným certifikátom autentifikovaným ILAC-MRA kalibráciou akreditačných agentúr (JCSS, JAB)
  • Možnosť kombinácie s AFM mikroskopom

CLSM (Confocal Laser Scanning Microscop) je určený predovšetkým pre materiálové vedy a patrí do skupiny meracích systémov. Tieto systémy umožňujúcich veľmi rýchle, efektívne a presné 2D a 3D pozorovanie a meranie, presné vyhodnocovanie povrchov rôzneho tvaru a zloženia ako napr. pevné objemové štruktúry a materiály nepravidelného tvaru vrátane drevín, tkanín, tenkých vrstiev, transparentných materiálov a vrstiev, vlákien, práškov, štruktúry rozličných kovových materiálov, plastov a ďalších. CLSM zohráva v oblasti materiálových vied veľmi dôležitú úlohu, kde vďaka svojmu vynikajúcemu rozlíšeniu, schopnosti 2D a 3D zobrazovania a analýzy, presného submikrónového merania bez nutnosti akejkoľvek predbežnej úpravy povrchu vzorky a veľkému rozsahu zväčšenia vypĺňa medzeru medzi optickými a (SEM) rastrovacími elektrónovými mikroskopmi.

Odkaz na stránku výrobcu
Stiahnuť brožúru

Kontinuálany autofokus

Makro mapovanie v reálnom čase

Smart scan II

Rýchla a presná metrológia

Kombinácia CLSM LEXT (UV) s AFM modulom

Ideálnym riešením pre sledovanie povrchov v submikrónovom rozlíšení je kombinácia súčasného CLSM (Confocal Laser Scanning mikroskop) s AFM modulom. Takýmto riešením získavame ucelené kompaktné zariadenie umožňujúce 3D zobrazenie a veľmi presné meranie v osiach X-Y-Z v oblasti zväčšenia 120x-150 000x, s rozlíšením až 1 nm v jednom integrovanom systéme. Ďalšou obrovskou výhodou je možnosť sledovania povrchov presne v definovanom mieste, plynule v celom rozsahu zväčšenia. Základný AFM modul obsahuje kontaktné meranie s možnosťou rozšírenia o väčšinu známych metód, ako napríklad:

  • Prerušovaná kontaktná metóda
  • Fázový kontrast
  • Mikroskopické metódy polí (FMM):
    • Kontrastná metóda magnetického poľa
    • Kontrastná metóda elektrostatického poľa
    • Metóda elasticity povrchu
  • Kelvinov snímač – Mikroskopická metóda merania povrchového napätia
  • Litografia