3D Merací laserový konfokálny mikroskop LEXT OLS 5100

Popis produktu

LEXT OLS 5100

• Precízne merania, rýchla a jednoduchá obsluha
• Vysokokvalitné zobrazovanie v 4k rozlíšení, 2CH PMT detektory a nový MEMS rezonančný skener
• Kontinuálny autofocus,
• Konfokálny režim (Laser DIC, Color a Color DIC) v kombinácii s klasickým zobrazením BF, DF, POL, DIC, HDR
• Prvotriedna metrológia so širokou škálou meracích modulov
• Rýchle nekontaktné, nedeštruktívne zobrazovanie a meranie bez nutnosti prípravy vzorky
• Špičkové rozlíšenie v osi XY 1nm a v osi Z 0.5nm
• Meranie hrán a zkosení ≤ 87.5°, Meranie: dĺžky, hrúbky, plochy, objemu, profilu, veľkosti zrna, podielu fáz, porozity a iné
• Meranie líniovej a plošnej drsnosti v súlade s normami ISO4287, ISO25178
• Hodnotenie mikročistoty a štruktúry materiálov podľa normy ASTM a DIN
• Garantovaná vysoká presnosť merania ±1.5% a opakovateľnosť merania ≤0.012µm
• Použiteľný na transparentné vrstvy
• Modulárny systém, Plocha skenovania až 300x300mm, Výška vzorky až 210mm
• Mikroskop s kalibračným certifikátom autentifikovaným ILAC-MRA kalibráciou akreditačných agentúr (JCSS, JAB)
• Export údajov vo formáte STL pre CAD aplikácie
• Možnosť kombinácie s AFM mikroskopom

CLSM (Confocal Laser Scanning Microscop) je určený predovšetkým pre materiálové vedy a patrí do skupiny meracích systémov. Tieto systémy umožňujúcich veľmi rýchle, efektívne a presné 2D a 3D pozorovanie a meranie, presné vyhodnocovanie povrchov rôzneho tvaru a zloženia ako napr. pevné objemové štruktúry a materiály nepravidelného tvaru vrátane drevín, tkanín, tenkých vrstiev, transparentných materiálov a vrstiev, vlákien, práškov, štruktúry rozličných kovových materiálov, plastov a ďalších. CLSM zohráva v oblasti materiálových vied veľmi dôležitú úlohu, kde vďaka svojmu vynikajúcemu rozlíšeniu, schopnosti 2D a 3D zobrazovania a analýzy, presného submikrónového merania bez nutnosti akejkoľvek predbežnej úpravy povrchu vzorky a veľkému rozsahu zväčšenia vypĺňa medzeru medzi optickými a (SEM) rastrovacími elektrónovými mikroskopmi.

Pomocou funkcie Smart Scan II  získate prvotné dáta rýchlo a ľahko už v priebehu niekoľkých sekúnd. Položte vzorku na stolík, stlačte tlačidlo Štart a zvyšok urobí mikroskop. Smart Lens Advisor vám zas pomôže vybrať ten správny objektív pri meraní drsnosti. Jednoducho zadáte niektoré základné informácie, napríklad veľkosť zorného poľa a objektív ktorý chcete použiť  a systém vám oznámi či je vhodný na danú aplikáciu. Teraz si môžete byť istí, že na túto úlohu používate správny objektív. Smart Judge Function,  funkcia inteligentného rozhodovania. Bežné laserové mikroskopy používajú na elimináciu šumu techniky spracovania obrazu, ako je vyhladzovanie. Tieto techniky však môžu odfiltrovať spolu so šumom aj jemné výškové nepravidelnosti čo zapríčiní menej presné dáta. Algoritmus Smart Judge mikroskopu OLS5100 automaticky detekuje iba spoľahlivé údaje a poskytuje presné merania bez straty údajov o jemných výškových nepravidelnostiach. Úplne nový a prepracovaný Smart Experimental Manager pre správu podmienok experimentu pri testovaní nových materiálov. Tento náročný a komplikovaný postup je uľahčený procesom automatizácie kľúčových krokov, napríklad vytvorením plánu experimentu. Akonáhle je váš plán vytvorený, bunky tabuľky sa automaticky vyplnia údajmi hneď po ich získaní. Nemusíte tak už strácať čas prepisovaním informácií o experimentoch z vášho mikroskopického systému do vášho počítača – systém to robí za vás. Navyše pomáha minimalizovať chyby pri zadávaní, umožňuje ľahký prístup k údajom a ich organizáciu. Softvér zobrazuje farebnú mapu, ktorá vám pomôže lepšie pochopiť údaje zhromaždené počas experimentu. Intuitívne rozloženie grafov a tepelné mapy umožňujú rýchlu vizualizáciu údajov, takže ak sa vyskytnú nejaké problémy, je ich ľahšie rozpoznať a napraviť na začiatku procesu.

Kombinácia CLSM LEXT (UV) s AFM modulom

Ideálnym riešením pre sledovanie povrchov v submikrónovom rozlíšení je kombinácia súčasného CLSM (Confocal Laser Scanning mikroskop) s AFM modulom. Takýmto riešením získavame ucelené kompaktné zariadenie umožňujúce 3D zobrazenie a veľmi presné meranie v osiach X-Y-Z v oblasti zväčšenia 120x-150 000x, s rozlíšením až 1 nm v jednom integrovanom systéme. Ďalšou obrovskou výhodou je možnosť sledovania povrchov presne v definovanom mieste, plynule v celom rozsahu zväčšenia. Základný AFM modul obsahuje kontaktné meranie s možnosťou rozšírenia o väčšinu známych metód, ako napríklad:

• Prerušovaná kontaktná metóda
• Fázový kontrast
• Mikroskopické metódy polí (FMM):
  • Kontrastná metóda magnetického poľa
  • Kontrastná metóda elektrostatického poľa
  • Metóda elasticity povrchu
• Kelvinov snímač – Mikroskopická metóda merania povrchového napätia
• Litografia